聚合工学院研究

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厚度对聚合物薄膜内CO2浓度剖面的影响

文档类型

条形图

发布日期

下降2009

抽象性

聚合薄膜通过超临界液膨胀不会单调增加化学潜力增加(压力),而是在临界压下观察到最大膨胀反应式试探方法使用卷积复用聚合膜中硅化可视化CO2质素剖面,即用跨段TEM显微镜修改疏漏域大小具体地说,检验60摄氏度CO2多片(二氧化二氮-二氧化二氮-二氧化二氮)异热膨胀含有厚度梯度的胶片用于避免厚度影响因硅修改期间温度或压力变化而产生的任何不确定性均匀孔尺寸(局部膨胀)观察所有薄膜厚度,当压力超出膜膨胀异常最大值时,但掩埋界面小幅增加除外,原因是优先向基底原硅氧化物表面吸附CO2最大膨胀时,两个界面都观察到孔度梯度介面上这些膨胀梯度似乎是薄膜异常最大值的原因薄膜厚度超过350纳米时,自由接口最大膨胀度下降

卷积

50码

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4182

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4188

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