聚合工学院研究
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开发者解决方案中光阻薄膜互换结构
文档类型
条形图
发布日期
2005年秋季
抽象性
底层开发者薄光阻薄膜反聚度深度剖面测量现场使用对比式变换中子反射性来描述薄膜初始膨胀阶段特征底部附近发现实质性反耗竭 薄膜外围增聚深入解析这些观察挑战我们理解光阻片和多电解片充电分布,对理解电影医学技术应用分解很重要
推荐引用
Vogt,Bryan,“开发者解决方案中光阻薄膜互换结构”(2005年)。聚合工学院研究.1077
https://ideaexchange.www.jamsic.com/polymerengin_ideas/1077
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