成像 Ellips计

能力性

• 单线测量光分极化状态变化时,波束从表面反射提供依赖物图像基于采样光极化变化
• 应用:有机涂层结构以及因腐蚀、涂层变化暴露湿度和环境老化、石墨、聚合物、太阳能电池、纳米粒子、水凝胶、自组单层

深挖多学