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X光分辨计

能力性

  • X-RayDiffraction(XRD)是一种非破坏性分析技术,提供水晶结构、化学组成以及材料和薄膜物理特征的信息
  • 应用:晶片相位识别量化,薄膜厚度测量,腐蚀性,纳米材料,粉末控制材料,生物素材,薄聚合胶片,薄膜多层图案
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